(73) Opal Producers Australia Limited, Dubbo, NSW 2830, 23 Church Street (AU)
(54) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BEURTEILUNG, BEWERTUNG
UND EINSTUFUNG VON EDELSTEINEN
(72) HORNABROOK, Graham Alfred, Dubbo, New South Wales 2830, 3 Lawson
Street (AU)
(72) MARCHANT, Stuart Norman, Alstonville, New South Wales 2477, 801 Wardell
Road (AU)
(72) LUMMIS, Rodney Herbert, Tamworth, New South Wales 2340, 5 Stratford
Place (AU)
(72) PRIMMER, Kathryn Elizabeth, Appin, New South Wales 2560, 12
Macquariedale Road (AU)
(72) SUTTON, Peter Bruce, Dubbo, New South Wales 2830, 11R Dunedoo Road
(AU)
(72) HORNABROOK, Angus Nelson, Clagiraba, Queensland 4211, 219 Landman
Court (AU)
(72) BISCHOF, Leanne, Putney, New South Wales 2112, 31 Douglas Street (AU)
(72) LAGERSTROM, Ryan, Stanmore, NSW 2048, 126 Macaulay Road (AU)
(72) HILSENSTEIN, Volker, St Lucia, QLD 4067, 1/74 Prospect Terrace (AU)
(72) IMRIE, Robert, George, Gulargambone, NSW 2828, "Corrawa Park"
Tooraweenah Road (AU)
(30) AU 2007 04 03 2007901825 P
(73) Luceo, 35770 Verne Sur Seiche, Zart Des Perrières (FR)
(54) WÄRMEFORMUNGSMASCHINE FÜR PAKETSTEUERUNG UND -
MARKIERUNG
(72) LAPERCHE, Christophe, 35520 La Chapelle Des Fougerets, La Nantillère
(FR)
(30) FR 2006 10 19 0654372
(73) ShawCor Ltd., Toronto, Ontario M9W 1M7, 25 Bethridge Road (CA)
(54) RÖNTGENINSPEKTIONSVORRICHTUNG ZUR INSPEKTION VON
GESCHWEISSTEN ROHRLEITUNGSRUNDNÄHTEN
(72) KNIGHT, Stephen, Norfolk NR13 4TR, Manor Farmhouse, Church Road,
Lingwood, Norwick (GB)
(72) DRAKE, Stephen, G., Norfold NR29 5RA, 30 Latchmoor Park, Ludham, Great
Yarmouth, (GB)
(30) GB 2009 10 13 0917950
(73) Sensirion AG, 8712 Stäfa, Laubisrütistrasse 50 (CH)
(54) Sensor mit Glob-Top und Herstellungsverfahren dafür
(72) Graf, Markus, 8005 Zürich, Heinrichstrasse 114 (CH)
(72) Niederberger, Dominik, 8055 Zürich, Bühlstrasse 45 (CH)
(72) Hunziker, Werner, 8712 Stäfa, Im Ibach 9 (CH)
(72) Morf, Peter, 8052 Zürich, Felsenrainstrasse 78 (CH)
(72) Hummel, René, 6340 Baar, Arbachstrasse 54 (CH)
(73) NXP B.V., 5656 AG Eindhoven, High Tech Campus 60 (NL)
(54) Integrierte Schaltung mit einem Gassensor und Verfahren zur Herstellung
einer derartigen Integrierten Schaltung
(72) Merz, Matthias, Redhill, Surrey RH1 1DL, c/o NXP Semiconductors
Intellectual Property and Licensing, Betchworth House, 57-65 Station Road, (GB)
(72) Humbert, Aurelie, Redhill, Surrey RH1 1DL, c/o NXP Semiconductors
Intellectual Property and Licensing, Betchworth House, 57-65 Station Road, (GB)
(72) Daamen, Roel, Redhill, Surrey RH1 1DL, c/o NXP Semiconductors Intellectual
Property and Licensing, Betchworth House, 57-65 Station Road, (GB)
(72) Tio Castro, David, Redhill, Surrey RH1 1DL, c/o NXP Semiconductors
Intellectual Property and Licensing, Betchworth House, 57-65 Station Road, (GB)
(30) EP 2011 08 03 11176484
(73) Knick Elektronische Messgeräte GmbH & Co. KG, 14163 Berlin,
Beuckestrasse 22 (DE)
(54) Sondeneinrichtung zur Messung von Prozessgrößen, insbesondere
Schubstangenarmatur
(72) Schiffer, Dipl.-Ing. Jens-Hendrik, 14480 Potsdam, Ratsweg 7 (DE)
(30) DE 2009 07 16 102009033558
(73) NORTH CAROLINA STATE UNIVERSITY, Raleigh, NC 27695-8210, 2401
Research Drive, Suite 1122, Campus Box 8210 (US)
(54) VERFAHREN, SYSTEME UND VORRICHTUNGEN ZUR BEURTEILUNG
EINER WÄRMEBEHANDLUNG
(72) PALAZOGLU, Tunc Koray, Mezitli, Mersin, Denizhan 2 Sitesi, B2 Blok No:5
(TR)
(72) SIMUNOVIC, Josip, Raleigh, NC 27612, 4524 Connel Drive (US)
(72) SWARTZEL, Kenneth, R., Raleigh, NC 27607, 1421 Dogwood Lane (US)
(72) SANDEEP, Kandiyan, Puthalath, Cary, NC 27519, 104 Carterwood Court
(US)
(30) US 2003 01 28 443298 P
(73) Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives, 75015 Paris,
25, rue Leblanc Bâtiment "Le Ponant D" (FR)
(73) California Institute of Technology, Pasadena, CA 91125, 1200 East California
Street (US)
(54) VORRICHTUNG ZUR ERKENNUNG VON GASEN UND/ODER
FLÜCHTIGEN ORGANISCHEN VERBINDUNGEN (VOC)
(72) DELAPIERRE, Guillaume, F-38450 Vif, 18 Montée du Pieu (FR)
(72) HOU-BROUTIN, Yanxia, F-38850 Bilieu, 100 impasse des Primevères (FR)
(72) MCCAIG, Heather, Pasadena CA 91106, 446s Catalina Avenue 301 (US)
(72) MYERS, Edward, Sherman Oaks CA 91423, 5020 Coldwater Canyon Avenue
104 (US)
(72) ROUKES, Michael, L., Pasadena CA 91106, 1420 San Pasqual (US)
(30) FR 2009 09 25 0904589
(30) US 2009 09 25 245998 P
(73) Valorex, 35210 Combourtille, La Messayais (FR)
(54) VERFAHREN ZUR BEURTEILUNG DER VON EINEM WIEDERKÄUER FÜR
DIE FLEISCHPRODUKTION PRODUZIERTEN MENGE AN METHAN
(72) WEILL, Pierre, F-35770 Vern Sur Seiche, 4 Allée Max Jacob (FR)
(72) CHESNEAU, Guillaume, F-35133 Luitre, 15 Résidence des Rochers (FR)
(72) GUERIN, Aude, F-35140 Saint Hilaire Des Landes, La Rivière (FR)
(30) FR 2010 06 29 1055243
(73) JFE Steel Corporation, Tokyo, 100-0011, 2-3, Uchisaiwai-cho 2-chome
Chiyoda-ku (JP)
(54) Verfahren zur Analyse von metallischem Material
(72) KINOSHIRO, Satoshi, Tokyo 100-0011, c/o Intellectual Property Dept. JFE
STEEL CORPORATION 2-3, Uchisaiwai-cho 2-chome Chiyoda-ku (JP)
(72) ISHIDA, Tomoharu, Tokyo 100-0011, c/o Intellectual Property Dept. JFE
STEEL CORPORATION 2-3, Uchisaiwai-cho 2-chome Chiyoda-ku (JP)
(30) JP 2008 11 28 2008303356
(73) Bayer HealthCare LLC, Whippany, NJ 07981-0915, 100 Bayer Boulevard (US)
(54) Selbstkalibrierender Testsensor und Verfahren zu dessen Herstellung
(72) LIEBER, Harris, A., White Plains, New York 10606, 127 Greenacres Ave.
(US)
(72) PERRY, Joseph, E., Osceola, Indiana 46561, 58075 Potawatomie Drive (US)
(73) Becton, Dickinson and Company, Franklin Lakes, New Jersey 07417-1880, 1
Becton Drive (US)
(54) Verfahren zur A/jointfilesconvert/330319/bgabe von diagnostischen Teststreifen
(72) Lovell, John, North Bergen, NJ New Jersey, 1116 88th Street (US)
(72) West, Robert E., Basking Ridge, NJ New Jersey 07920, 66 Lake Road (US)
(30) US 2006 05 09 430179
(73) F.Hoffmann-La Roche AG, 4070 Basel, Grenzacherstrasse 124 (CH)
(54) 3-DIMENSIONALER ADCC NK FACS-TEST
(72) CHALLAND, Andrea, 82377 Penzberg, Ruhe am Bach 10C (DE)
(72) KLEIN, Christian, 8906 Bonstetten, Chruezacherweg 41 (CH)
(72) KUBBIES, Manfred, 82377 Penzberg, Glaswandstrasse 7c (DE)
(30) EP 2010 02 11 10153277
(73) Koninklijke Philips N.V., 5656 AE Eindhoven, High Tech Campus 5 (NL)
(54) GEPULSTE MAGNETISCHE BETÄTIGUNG FÜR SENSITIVE TESTS
(72) EVERS, Toon, H., NL-5656 AE Eindhoven, c/o High Tech Campus Building
44 (NL)
(72) OVSYANKO, Mikhail, M., NL-5656 AE Eindhoven, c/o High Tech Campus
Building 44 (NL)
(30) EP 2008 10 17 08166901
(73) Duke University, Durham, NC 27708-0083, Office of Science and Technology,
P.O. Box 90083 (US)
(72) HELLINGA, Homme W., c/o Duke University, Durham, NC 27708-0083, Office
of Science and Technology, Box 90083 (US)
(72) CONRAD, David W., c/o Duke University, Durham, NC 27708-0083, Office of
Science and Technology, Box 90083 (US)
(72) BENSON, David E., c/o Wayne State University, Detroit, MI 48202, 4032
Fac./Adm. Building, 656 West Kirby (US)
(30) US 2001 08 28 315036 P
Österreichisches Patentblatt 111. Jahrgang Nummer 4, Seite 1046
Kommentare zu diesen Handbüchern